Sfoglia per Autore  IELLINA, Matteo

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Programming Efficiency and Drain Disturb Trade-Off in Embedded Non Volatile Memories 1-gen-2010 A., Zaka; Palestri, Pierpaolo; D., Rideau; Iellina, Matteo; E., Dormel; Q., Rafhay; C., Tavernier; H., Jaouen
A simulation study of the Punch-through Assisted Hot Holes Injection mechanism for non-volatile-memory cells 1-gen-2010 Iellina, Matteo; Palestri, Pierpaolo; Akil, N.; VAN DUUREN, M.; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca
On the accuracy of current TCAD hot carrier injection models in nanoscale devices 1-gen-2010 A., Zaka; Q., Rafhay; Iellina, Matteo; Palestri, Pierpaolo; R., Clerc; D., Rideau; D., Garetto; E., Dornel; J., Singer; G., Pananakakis; C., Tavernier; H., Jaouen
Tunneling path impact on semi-classical numerical simulations of TFET devices 1-gen-2011 DE MICHIELIS, Luca; Iellina, Matteo; Palestri, Pierpaolo; Ionescu, A; Selmi, Luca
An Efficient Nonlocal Hot Electron Model Accounting for Electron–Electron Scattering 1-gen-2012 Zaka, A; Palestri, Pierpaolo; Rafhay, Q; Clerc, R; Iellina, Matteo; Rideau, D; Tavernier, C; Pananakis, G; Herven, J; Selmi, Luca
Effect of the choice of the tunnelling path on semi-classical numerical simulations of TFET devices 1-gen-2012 DE MICHIELIS, Luca; Iellina, Matteo; Palestri, Pierpaolo; Ionescu, A; Selmi, Luca
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