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Mobility in FDSOI Devices: Monte Carlo and Kubo Greenwood Approaches Compared to NEGF Simulations 1-gen-2013 Rideau, D; Niquet, Y. M.; Nier, Oliver; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Nguyen, V. H.; Triozon, F; Duchemin, I; Garetto, D; Smith, L; Silvestri, L; Nallet, F; Tavernier, C; Jaouen, H.
Multi-scale strategy for high-k/metal-gate UTBB-FDSOI devices modeling with emphasis on back bias impact on mobility 1-gen-2013 Nier, Oliver; D., Rideau; Y. M., Niquet; F., Monsieur; V. H., Nguyen; F., Triozon; A., Cros; R., Clerc; J. C., Barbé; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; I., Duchemin; L., Smith; L., Silvestri; F., Nallet; C., Tavernier; H., Jaouen; Selmi, Luca
Mobility in high-K metal gate UTBB-FDSOI devices: From NEGF to TCAD perspectives 1-gen-2013 D., Rideau; Y. M., Niquet; Nier, Oliver; A., Cros; J. P., Manceau; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; V. H., Nguyen; F., Triozon; J. C., Barbe; I., Duchemin; D., Garetto; L., Smith; L., Silvestri; F., Nallet; R., Clerc; O., Weber; F., Andrieu; E., Josse; C., Tavernier; H., Jaouen
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