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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
"A Better Understanding of Substrate Enhanced Gate Current in VLSI MOSFET's and Flash Cells - Part II: Physical Analysis 1-gen-1999 Selmi, Luca; Esseni, David
"A Better Understanding of Substrate Enhanced Gate Current in VLSI MOSFET's and Flash Cells - Part I: Phenomenological Aspects" 1-gen-1999 Esseni, David; Selmi, Luca
3D-FBK pixelsensors:Recent beam tests results with irradiated devices 1-gen-2011 Micelli, Andrea; K., Helle; H., Sandaker; B., Stugu; M., Barbero; F., Hugging; M., Karagounis; V., Kostyukhin; H., Kruger; J. W., Tsung; N., Wermes; M., Capua; S., Fazio; A., Mastroberardino; G., Susinno; C., Gallrapp; B., Digirolamo; D., Dobos; A., Larosa; H., Pernegger; S., Roe; T., Slavicek; S., Pospisil; K., Jakobs; M., Kohler; U., Parzefall; G., Darbo; G., Gariano; C., Gemmeg; A., Rovani; E., Ruscino; C., Butter; R., Bates; V., Oshea; S., Parker; M., Cavalli Sforza; S., Grinstein; I., Korokolov; C., Pradilla; K., Einsweiler; M., Garcia Sciveres; M., Borri; C., Davia; J., Freestone; S., Kolya; C. H., Lail; C., Nellist; J., Pater; R., Thompson; S. J., Watts; M., Hoeferkampm; S., Seidelm; E., Bolle; H., Gjersdal; K. N., Sjoebaek; S., Stapnes; O., Rohne; D., Suo; C., Young; P., Hansson; P., Grenier; J., Hasi; C., Kenney; M., Kocian; P., Jackson; D., Silverstein; H., Davetak; B., Dewilde; D., Tsybychev; G. F., Dallabetta; P., Gabos; M., Povoli; Cobal, Marina; Giordani, Mario; Selmi, Luca; Cristofoli, Andrea; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; C., Fleta; M., Lozano; G., Pellegrini; M., Boscardin; A., Bagolini; C., Piemonte; S., Ronchin; N., Zorzi; T. E., Hansen; T., Hansen; A., Kok; N., Lietaer; J., Kalliopuska; A., Oja
A better insight in the performance of silicon bjt's featuring highly non-uniform collector doping profiles 1-gen-2000 Palestri, Pierpaolo; Fiegna, C.; Selmi, Luca; Peter, M. S.; Hurkx, G. A. M.; Slotboom, J. W.; Sangiorgi, Enrico
A better understanding of the low-field mobility in Graphene Nano-ribbons 1-gen-2009 Bresciani, M; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
A better understanding of the requirements for predictive modeling of strain engineering in nMOS transistors 1-gen-2008 Comparone, G; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Lucci, L; Selmi, Luca
A CMOS Pixelated Nanocapacitor Biosensor Platform for High-Frequency Impedance Spectroscopy and Imaging 1-gen-2018 Widdershoven, Frans; Cossettini, Andrea; Laborde, Cecilia; Bandiziol, Andrea; van Swinderen, Peter Paul; Lemay, Serge G.; Selmi, Luca
A combined transport-injection model for hot-electron and hot-hole injection in the gate oxide of MOS structures 1-gen-1994 A., Ghetti; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; Abramo, Antonio; F., Venturi
A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors 1-gen-2002 Palestri, Pierpaolo; DALLA SERRA, Alberto; Selmi, Luca; M., Pavesi; Rigolli, P. L.; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico
A Comparative Study of Hot-Carrier Induced Light Emission and Degradation in Bulk and SOI MOSFETs 1-gen-1995 Selmi, Luca; Pavesi, M; Wong, H. S.; Acovic, A; Sangiorgi, Enrico
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Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 216
  • ESSENI, David 174
  • DRIUSSI, Francesco 69
  • SANGIORGI, Enrico 54
  • ABRAMO, Antonio 20
  • CARUSO, Enrico 18
  • LIZZIT, Daniel 18
  • LUCCI, Luca 15
  • PITTINO, Federico 15
  • OSGNACH, Patrik 14
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 9
  • 2010 - 2019 156
  • 2000 - 2009 159
  • 1990 - 1999 63
  • 1987 - 1989 8
Editore
  • IEEE 38
  • IEEE / Institute of Electrical an... 7
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • Wiley 3
  • Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE A... 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • American Institute of Physics Inc. 1
  • Cambridge University Press 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Science BV 1
Rivista
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  • SOLID-STATE ELECTRONICS 31
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 11
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 9
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  • IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND... 3
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 2
  • IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY 2
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