DALLA SERRA, Alberto
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A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors
2002-01-01 Palestri, Pierpaolo; DALLA SERRA, Alberto; Selmi, Luca; M., Pavesi; Rigolli, P. L.; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico
Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs
2002-01-01 Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; Sangiorgi, Enrico; M., Pavesi; P., Rigolli; F., Widdershoven
Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs
2000-01-01 Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors | 1-gen-2002 | Palestri, Pierpaolo; DALLA SERRA, Alberto; Selmi, Luca; M., Pavesi; Rigolli, P. L.; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico | |
| Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs | 1-gen-2002 | Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; Sangiorgi, Enrico; M., Pavesi; P., Rigolli; F., Widdershoven | |
| Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs | 1-gen-2000 | Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico |