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Characterization and Modeling of Hot-Carrier Luminescence in Silicon n+/n/n+ Devices
1995-01-01 Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M.; Bude, J; Manfredi, M; Sangiorgi, Enrico; Pinto, M. R.
Characterization and Modeling of long term retention in SONOS Non Volatile Memories
2007-01-01 Arreghini, A; Akil, N; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; VAN DUUREN, M. J.
Characterization and modelling of differential sensitivity of nanoribbon-based pH-sensors
2015-01-01 Scarbolo, Paolo; Accastelli, E.; Pittino, Federico; Ernst, T.; Guiducci, C.; Selmi, Luca
Characterization of the Transient Behavior of a GaAs MESFET Using Dynamic I-V and S-parameter Measurements
1996-01-01 Begin, M; Ghannouchi, F. M.; Beauregards, F; Selmi, Luca; Ricco, B.
Characterization of Transient Effects in the S-Parameters of GaAs MESFETs by means of Pulsed Measurements
1994-01-01 Begin, M; Ghannouchi, F. M.; Beauregard, F; Selmi, Luca; Ricco, B; Borelli, V.
Closed- and Open- boundary Models for Gate-Current calculation in n-MOSFETs
2001-01-01 DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Widdershoven, F.
Comparative Analysis of Basic Transport Properties in the Inversion Layer of Bulk and SOI MOSFETs: a Monte-Carlo Study
2004-01-01 Lucci, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Comparison of Advanced Transport Models for Nanoscale nMOSFETS
2009-01-01 Palestri, Pierpaolo; Alexander, C; Asenov, A; Baccarani, G; Bournel, A; Braccioli, M; Cheng, B; Dollfus, P; Esposito, A; Esseni, David; Ghetti, A; Fiegna, C; Fiori, G; AUBRY FORTUNA, V; Iannaccone, G; Martinez, A; Majkusiak, B; Monfray, B; Reggiani, S; Riddet, C; SAINT MARTIN, J; Sangiorgi, E; Schenk, A; Selmi, Luca; Silvestri, L; Walczak, J.
Comparison of modeling approaches for the capacitance-voltage and current voltage characteristics of advanced gate stacks
2007-01-01 Palestri, Pierpaolo; N., Barin; D., Brunel; C., Busseret; A., Campera; P. A., Childs; Driussi, Francesco; C., Fiegna; G., Fiori; R., Gusmeroli; G., Iannaccone; M., Karner; H., Kosina; A. L., Lacaita; E., Langer; B., Majkusiak; C., Monzio Compagnoni; A., Poncet; E., Sangiorgi; Selmi, Luca; A. S., Spinelli; J., Walczak
Comparison of Monte Carlo Transport Models for Nanometer-Size MOSFETs
2007-01-01 Fiegna, C; Braccioli, M; Brugger, S. C.; Bufler, F. M.; Dollfus, P; AUBRY FORTUNA, V; Jungemann, C; Meinerzhagen, B; Palestri, Pierpaolo; GALDIN RETAILLEAU, S; Sangiorgi, E; Schenk, A; Selmi, Luca
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Characterization and Modeling of Hot-Carrier Luminescence in Silicon n+/n/n+ Devices | 1-gen-1995 | Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M.; Bude, J; Manfredi, M; Sangiorgi, Enrico; Pinto, M. R. | |
Characterization and Modeling of long term retention in SONOS Non Volatile Memories | 1-gen-2007 | Arreghini, A; Akil, N; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; VAN DUUREN, M. J. | |
Characterization and modelling of differential sensitivity of nanoribbon-based pH-sensors | 1-gen-2015 | Scarbolo, Paolo; Accastelli, E.; Pittino, Federico; Ernst, T.; Guiducci, C.; Selmi, Luca | |
Characterization of the Transient Behavior of a GaAs MESFET Using Dynamic I-V and S-parameter Measurements | 1-gen-1996 | Begin, M; Ghannouchi, F. M.; Beauregards, F; Selmi, Luca; Ricco, B. | |
Characterization of Transient Effects in the S-Parameters of GaAs MESFETs by means of Pulsed Measurements | 1-gen-1994 | Begin, M; Ghannouchi, F. M.; Beauregard, F; Selmi, Luca; Ricco, B; Borelli, V. | |
Closed- and Open- boundary Models for Gate-Current calculation in n-MOSFETs | 1-gen-2001 | DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Widdershoven, F. | |
Comparative Analysis of Basic Transport Properties in the Inversion Layer of Bulk and SOI MOSFETs: a Monte-Carlo Study | 1-gen-2004 | Lucci, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca | |
Comparison of Advanced Transport Models for Nanoscale nMOSFETS | 1-gen-2009 | Palestri, Pierpaolo; Alexander, C; Asenov, A; Baccarani, G; Bournel, A; Braccioli, M; Cheng, B; Dollfus, P; Esposito, A; Esseni, David; Ghetti, A; Fiegna, C; Fiori, G; AUBRY FORTUNA, V; Iannaccone, G; Martinez, A; Majkusiak, B; Monfray, B; Reggiani, S; Riddet, C; SAINT MARTIN, J; Sangiorgi, E; Schenk, A; Selmi, Luca; Silvestri, L; Walczak, J. | |
Comparison of modeling approaches for the capacitance-voltage and current voltage characteristics of advanced gate stacks | 1-gen-2007 | Palestri, Pierpaolo; N., Barin; D., Brunel; C., Busseret; A., Campera; P. A., Childs; Driussi, Francesco; C., Fiegna; G., Fiori; R., Gusmeroli; G., Iannaccone; M., Karner; H., Kosina; A. L., Lacaita; E., Langer; B., Majkusiak; C., Monzio Compagnoni; A., Poncet; E., Sangiorgi; Selmi, Luca; A. S., Spinelli; J., Walczak | |
Comparison of Monte Carlo Transport Models for Nanometer-Size MOSFETs | 1-gen-2007 | Fiegna, C; Braccioli, M; Brugger, S. C.; Bufler, F. M.; Dollfus, P; AUBRY FORTUNA, V; Jungemann, C; Meinerzhagen, B; Palestri, Pierpaolo; GALDIN RETAILLEAU, S; Sangiorgi, E; Schenk, A; Selmi, Luca |
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