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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Tunnelling Injection in Thin Oxide MOS Capacitors 1-gen-2000 . DALLA SERRA, A.; Abramo, Antonio; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Sangiorgi, E.
Two dimensional quantum simulation of silicon MOSFETs 1-gen-1999 Abramo, Antonio; Cardin, A.; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico
Two-dimensional quantum mechanical aspects in the charge distribution of ULSI silicon MOSFETs 1-gen-2000 Abramo, Antonio; A., Cardin; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico
Two-dimensional quantum mechanical simulation of charge distribution in silicon MOSFETs 1-gen-2000 Abramo, Antonio; Cardin, A.; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico
Two-dimensional quantum simulation of silicon MOSFETs 1-gen-1999 Abramo, Antonio; A., Cardin; Selmi, Luca; E., Sangiorgi
Ultra Thin SOI Transistors for Ultimate CMOS Technology: Fundamental Properties and Application Perspectives 1-gen-2002 Esseni, David; Mastrapasqua, M; Fiegna, C; Celler, G; Selmi, Luca; Sangiorgi, E.
Understanding Quasi-Ballistic Transport in nano-MOSFETs. Part I:Scattering in the Channel and in the Drain 1-gen-2005 Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; S., Eminente; C., Fiegna; E., Sangiorgi; Selmi, Luca
Understanding Quasi-Ballistic Transport in nano-MOSFETs. Part II: Technology Scaling along the ITRS 1-gen-2005 Eminente, S.; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Fiegna, C; Selmi, Luca; Sangiorgi, E.
Understanding the mobility reduction in MOSFETs featuring high-κ dielectrics 1-gen-2010 Toniutti, Paolo; DE MICHIELIS, Marco; Palestri, Pierpaolo; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca
Understanding the Potential and Limitations of Tunnel FETs for Low-Voltage Analog/Mixed-Signal Circuits 1-gen-2017 Settino, Francesco; Lanuzza, Marco; Strangio, Sebastiano; Crupi, Felice; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
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  • 6 Brevetti 2
  • 6 Brevetti::6.1 Brevetto 2
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 216
  • ESSENI, David 174
  • DRIUSSI, Francesco 69
  • SANGIORGI, Enrico 54
  • ABRAMO, Antonio 20
  • CARUSO, Enrico 18
  • LIZZIT, Daniel 18
  • LUCCI, Luca 15
  • PITTINO, Federico 15
  • OSGNACH, Patrik 14
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 9
  • 2010 - 2019 156
  • 2000 - 2009 159
  • 1990 - 1999 63
  • 1987 - 1989 8
Editore
  • IEEE 38
  • IEEE / Institute of Electrical an... 7
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • Wiley 3
  • Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE A... 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • American Institute of Physics Inc. 1
  • Cambridge University Press 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Science BV 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 66
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 31
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 11
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 9
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND... 3
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 2
  • IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY 2
Keyword
  • TCAD 7
  • Monte Carlo 6
  • Electrical and Electronic Enginee... 5
  • Electronic 5
  • Optical and Magnetic Materials 5
  • Simulation 5
  • Tunnel-FET 5
  • Condensed Matter Physics 4
  • Modeling 4
  • Charge trapping 3
Lingua
  • eng 286
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Accesso al fulltext
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