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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations 1-gen-2003 Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo
Transport in deca-nanometric MOSFETs: from bandstructure to on-currents 1-gen-2006 Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Tunnel-FET architecture with improved performance due to enhanced gate modulation of the tunneling barrier 1-gen-2011 DE MICHIELIS, Luca; Lattanzio, L; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Ionescu, A. M.
Tunneling path impact on semi-classical numerical simulations of TFET devices 1-gen-2011 DE MICHIELIS, Luca; Iellina, Matteo; Palestri, Pierpaolo; Ionescu, A; Selmi, Luca
Tunnelling Injection in Thin Oxide MOS Capacitors 1-gen-2000 . DALLA SERRA, A.; Abramo, Antonio; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Sangiorgi, E.
Two Dimensional Quantum Mechanical Simulation of Low Dimensional Tunneling Devices 1-gen-2014 C., Alper; Palestri, Pierpaolo; L., Lattanzio; J. L., Padilla; A. M., Ionescu
Ultra-High Frequency (500 MHz) Capacitance Spectroscopy for Nanobiosensing 1-gen-2020 Cossettini, Andrea; Brandalise, Denis; Palestri, Pierpaolo; Bertacchini, Alessandro; Ramponi, Michele; Widdershoven, Frans; Benini, Luca; Selmi, Luca
Understanding the mobility reduction in MOSFETs featuring high-κ dielectrics 1-gen-2010 Toniutti, Paolo; DE MICHIELIS, Marco; Palestri, Pierpaolo; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca
Validity of the effective mass approximation in silicon and germanium inversion layers 1-gen-2006 VAN DER STEEN, J. L.; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 169
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  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 5
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 1
Autore
  • SELMI, Luca 117
  • ESSENI, David 77
  • DRIUSSI, Francesco 21
  • CARUSO, Enrico 15
  • LIZZIT, Daniel 12
  • LUCCI, Luca 8
  • OSGNACH, Patrik 8
  • PILOTTO, ALESSANDRO 7
  • MELE, Leandro Julian 6
  • STRANGIO, Sebastiano 6
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 13
  • 2010 - 2019 86
  • 2000 - 2009 68
  • 1998 - 1999 2
Editore
  • IEEE 33
  • Institute of Electrical and Elect... 9
  • American Institute of Physics Inc. 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Libreria Progetto 1
  • Springer Wien New York 1
  • Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 2
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 1
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 2
Keyword
  • FinFETs 4
  • Automotive 2
  • EHBTFET 2
  • Gallium arsenide 2
  • III-V compounds 2
  • III-V semiconductors 2
  • Integrated circuit modeling 2
  • Logic gates 2
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Lingua
  • eng 117
Accesso al fulltext
  • reserved 108
  • no fulltext 50
  • restricted 8
  • open 2
  • partially open 1