Total ionizing dose effects on analog performance of 28 nm bulk MOSFETs

	Anno
	
			2017
		
	Codice ISBN
	
			9781509059782
		
	Appare nelle tipologie:
	
			4.1 Contributo in Atti di convegno

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Total Ionizing Dose Effects on Analog Performance of 28 nm Bulk MOSFETs.pdf non disponibili Descrizione: Articolo principale Tipologia: Documento in Pre-print Licenza: Non pubblico Dimensione 2 MB Formato Adobe PDF Visualizza/Apri Richiedi una copia	2 MB	Adobe PDF	Visualizza/Apri Richiedi una copia

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11390/1127425