DALLA SERRA, Alberto
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 238
AS - Asia 110
EU - Europa 74
SA - Sud America 13
AF - Africa 4
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 0
Totale 439
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 232
SG - Singapore 50
DE - Germania 26
CN - Cina 24
UA - Ucraina 14
BR - Brasile 12
RU - Federazione Russa 12
HK - Hong Kong 9
TR - Turchia 7
VN - Vietnam 7
FI - Finlandia 6
FR - Francia 5
CA - Canada 3
SE - Svezia 3
BD - Bangladesh 2
IE - Irlanda 2
IN - India 2
IQ - Iraq 2
IT - Italia 2
MX - Messico 2
PS - Palestinian Territory 2
CZ - Repubblica Ceca 1
DZ - Algeria 1
EC - Ecuador 1
GB - Regno Unito 1
GR - Grecia 1
HN - Honduras 1
ID - Indonesia 1
IL - Israele 1
KR - Corea 1
KZ - Kazakistan 1
MG - Madagascar 1
MM - Myanmar 1
NL - Olanda 1
ZA - Sudafrica 1
ZW - Zimbabwe 1
Totale 439
Città #
Fairfield 22
Singapore 20
Ashburn 18
Chandler 16
Wilmington 15
Cambridge 14
Seattle 13
Jacksonville 12
San Jose 12
Beijing 9
Hong Kong 9
Houston 7
Los Angeles 7
Woodbridge 7
New York 6
Izmir 5
Ann Arbor 4
Boardman 4
Chicago 4
Dearborn 4
Lauterbourg 4
San Mateo 4
Council Bluffs 3
Ho Chi Minh City 3
Princeton 3
Buffalo 2
Da Nang 2
Dublin 2
Düsseldorf 2
Hangzhou 2
Phoenix 2
Almaty 1
Amsterdam 1
Ankara 1
Antananarivo 1
Apex 1
Athens 1
Atibaia 1
Atlanta 1
Baghdad 1
Boonville 1
Brno 1
Cape Town 1
Charlotte 1
Criciúma 1
Dieppe 1
Freeport 1
Fátima do Sul 1
Gaza 1
Grafing 1
Harare 1
Hebei 1
Hefei 1
Istanbul 1
Itaperuna 1
Kannapolis 1
Kunming 1
La Pine 1
La Plata 1
Lindenhurst 1
Maceió 1
Manchester 1
Miano 1
Minas Novas 1
Monterrey 1
Munich 1
Nanjing 1
Ogden 1
Oklahoma City 1
Paudalho 1
Phủ Lý 1
Pompéia 1
Poço Fundo 1
Pune 1
Queens 1
Quito 1
Rishon LeTsiyyon 1
Riverside 1
Santo André 1
Secaucus 1
Seoul 1
Shanghai 1
Shenyang 1
Sherbrooke 1
Slidell 1
São Paulo 1
Taizhou 1
Tegucigalpa 1
Thái Bình 1
Tizi Ouzou 1
Tupi Paulista 1
Tuxtla Gutiérrez 1
Ufa 1
Vancouver 1
Woonsocket 1
Yangon 1
Ţūbās 1
Totale 303
Nome #
Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs 164
A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors 157
Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs 118
Totale 439
Categoria #
all - tutte 1.657
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.657


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2021/202226 0 0 0 3 0 2 1 0 1 5 11 3
2022/202325 3 5 1 6 3 3 0 1 1 0 2 0
2023/202418 1 3 0 0 1 7 0 0 1 0 0 5
2024/202567 1 3 1 1 5 3 6 2 10 9 8 18
2025/2026108 11 11 7 16 16 8 12 3 10 6 8 0
2026/202730 3 9 6 12 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 439