DALLA SERRA, Alberto
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 160
EU - Europa 53
AS - Asia 21
Totale 234
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 160
DE - Germania 23
UA - Ucraina 14
CN - Cina 12
FI - Finlandia 6
TR - Turchia 5
RU - Federazione Russa 3
SE - Svezia 3
SG - Singapore 3
CZ - Repubblica Ceca 1
IE - Irlanda 1
IN - India 1
IT - Italia 1
NL - Olanda 1
Totale 234
Città #
Fairfield 22
Chandler 16
Wilmington 15
Cambridge 14
Seattle 13
Jacksonville 12
Ashburn 11
Woodbridge 7
Houston 6
New York 6
Izmir 5
Ann Arbor 4
Beijing 4
Dearborn 4
San Mateo 4
Princeton 3
Singapore 3
Hangzhou 2
Amsterdam 1
Boardman 1
Brno 1
Dublin 1
Grafing 1
Hebei 1
Kunming 1
Nanjing 1
Ogden 1
Shenyang 1
Taizhou 1
Totale 162
Nome #
Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs 96
A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors 84
Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs 54
Totale 234
Categoria #
all - tutte 775
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 775


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2019/202070 4 2 2 12 5 10 6 10 6 10 0 3
2020/202132 3 3 0 5 0 3 2 3 8 0 5 0
2021/202233 2 1 4 3 0 2 1 0 1 5 11 3
2022/202325 3 5 1 6 3 3 0 1 1 0 2 0
2023/202418 1 3 0 0 1 7 0 0 1 0 0 5
Totale 234