DALLA SERRA, Alberto
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 165
EU - Europa 53
AS - Asia 27
Totale 245
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 165
DE - Germania 23
UA - Ucraina 14
CN - Cina 12
SG - Singapore 9
FI - Finlandia 6
TR - Turchia 5
RU - Federazione Russa 3
SE - Svezia 3
CZ - Repubblica Ceca 1
IE - Irlanda 1
IN - India 1
IT - Italia 1
NL - Olanda 1
Totale 245
Città #
Fairfield 22
Chandler 16
Wilmington 15
Cambridge 14
Seattle 13
Jacksonville 12
Ashburn 11
Singapore 8
Woodbridge 7
Houston 6
New York 6
Izmir 5
Ann Arbor 4
Beijing 4
Boardman 4
Dearborn 4
San Mateo 4
Princeton 3
Hangzhou 2
Amsterdam 1
Brno 1
Dublin 1
Grafing 1
Hebei 1
Kunming 1
Nanjing 1
Ogden 1
Shenyang 1
Taizhou 1
Totale 170
Nome #
Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs 99
A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors 88
Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs 58
Totale 245
Categoria #
all - tutte 914
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 914


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2019/202050 0 0 0 0 5 10 6 10 6 10 0 3
2020/202132 3 3 0 5 0 3 2 3 8 0 5 0
2021/202233 2 1 4 3 0 2 1 0 1 5 11 3
2022/202325 3 5 1 6 3 3 0 1 1 0 2 0
2023/202418 1 3 0 0 1 7 0 0 1 0 0 5
2024/202511 1 3 1 1 5 0 0 0 0 0 0 0
Totale 245