ZANCHETTA, SERGIO
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 67
AS - Asia 23
EU - Europa 16
SA - Sud America 8
Totale 114
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 66
SG - Singapore 10
BR - Brasile 6
CN - Cina 5
UA - Ucraina 5
DE - Germania 4
IT - Italia 3
VN - Vietnam 3
FI - Finlandia 2
HK - Hong Kong 2
IN - India 2
AR - Argentina 1
CA - Canada 1
CO - Colombia 1
IE - Irlanda 1
RU - Federazione Russa 1
SA - Arabia Saudita 1
Totale 114
Città #
Woodbridge 16
Fairfield 10
Ashburn 6
Houston 6
Wilmington 5
Cambridge 4
Jacksonville 4
Dearborn 3
Seattle 3
Singapore 3
Beijing 2
Chennai 2
Hong Kong 2
Ann Arbor 1
Boardman 1
Bogotá 1
Campinas 1
Dallas 1
Dublin 1
Grafing 1
Hanoi 1
Hefei 1
Ho Chi Minh City 1
Itaquaquecetuba 1
Jaguarão 1
Jeddah 1
Joinville 1
Kunming 1
Ourinhos 1
Princeton 1
San Diego 1
São Carlos 1
Thái Nguyên 1
Totale 86
Nome #
Microscopic Analysis of the Impact of Substrate Bias on the Gate Current of pMOSFETs 114
Totale 114
Categoria #
all - tutte 435
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 435


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/20212 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 2 0
2021/20227 1 0 0 0 0 1 1 0 0 2 1 1
2022/20233 1 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 0
2024/202511 1 1 0 0 0 2 0 0 1 2 2 2
2025/202622 0 4 1 8 4 2 0 1 1 1 0 0
Totale 114