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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET 1-gen-2006 Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
Back-Scattering in Quasi Ballistic NanoMOSFETs: The Role of Non Thermal Carrier Distributions 1-gen-2008 Clerc, R; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Ghibaudo, G.
Backscattering and common-base current gain of the Graphene Base Transistor (GBT) 1-gen-2015 Venica, Stefano; Driussi, Francesco; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Backscattering and common-base current gain of the Graphene Base Transistor (GBT) 1-gen-2015 Venica, Stefano; Driussi, Francesco; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Ballistic Effects in Advanced MOSFETs along the Roadmap 1-gen-2005 Sangiorgi, E; Palestri, Pierpaolo; Eminente, S; Esseni, David; Fiegna, C; Selmi, Luca
Bayesian Estimation for Transport Equations for Nanocapacitors 1-gen-2018 Stadlbauer, Benjamin; Taghizadeh, Leila; Morales Escalante, Jose A.; Heitzinger, Clemens; Cossettini, Andrea; Selmi, Luca
Bayesian estimation of physical and geometrical parameters for nanocapacitor array biosensors 1-gen-2019 Stadlbauer, Benjamin; Cossettini, Andrea; Morales E., José A.; Pasterk, Daniel; Scarbolo, Paolo; Taghizadeh, Leila; Heitzinger, Clemens; Selmi, Luca
Benchmarks of a III-V TFET technology platform against the 10-nm CMOS FinFET technology node considering basic arithmetic circuits 1-gen-2017 Strangio, Sebastiano; Palestri, Pierpaolo; Lanuzza, M.; Esseni, David; Crupi, F.; Selmi, Luca
Benchmarks of a III-V TFET technology platform against the 10-nm CMOS technology node considering 28T Full-Adders 1-gen-2016 Strangio, Sebastiano; Palestri, Pierpaolo; Lanuzza, M.; Esseni, David; Crupi, F.; Selmi, Luca
Bias and Temperature Dependence of Homogeneous Hot-Electron Injection from Silicon into Silicon Dioxide at Low Voltages 1-gen-1997 Fischer, B; Ghetti, A; Selmi, Luca; Bez, R; Sangiorgi, Enrico
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  • 6 Brevetti 2
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Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 216
  • ESSENI, David 174
  • DRIUSSI, Francesco 69
  • SANGIORGI, Enrico 54
  • ABRAMO, Antonio 20
  • CARUSO, Enrico 18
  • LIZZIT, Daniel 18
  • LUCCI, Luca 15
  • PITTINO, Federico 15
  • OSGNACH, Patrik 14
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 9
  • 2010 - 2019 156
  • 2000 - 2009 159
  • 1990 - 1999 63
  • 1987 - 1989 8
Editore
  • IEEE 38
  • IEEE / Institute of Electrical an... 7
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • Wiley 3
  • Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE A... 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • American Institute of Physics Inc. 1
  • Cambridge University Press 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Science BV 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 66
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 31
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 11
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 9
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND... 3
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 2
  • IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY 2
Keyword
  • TCAD 7
  • Monte Carlo 6
  • Electrical and Electronic Enginee... 5
  • Electronic 5
  • Optical and Magnetic Materials 5
  • Simulation 5
  • Tunnel-FET 5
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  • Modeling 4
  • Charge trapping 3
Lingua
  • eng 286
  • ita 3
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