RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
An Improved Test Structure to Characterize Ultra- Low Hot Carrier Injection in Homogeneous Conditions
1996-01-01 Selmi, Luca; Bez, R; Sangiorgi, Enrico
An in-depth investigation of physical mechanisms governing SANOS memories characteristics
2009-01-01 M., Bocquet; Vianello, Elisa; G., Molas; L., Perniola; H., Grampeix; F., Martin; J. P., Colonna; A. M., Papon; P., Brianceau; M., Gély; B., De Salvo; G., Pananakakis; G., Ghibaudo; Selmi, Luca
Analysis of Dielectric Microbead Detection by Impedance Spectroscopy with Nanoribbons
2016-01-01 Scarbolo, Paolo; Accastelli, Enrico; Ernst, Thomas; Guiducci, Carlotta; Selmi, Luca
Analysis of TFET based 6T SRAM cells implemented with state of the art silicon nanowires
2014-01-01 S., Strangio; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca; F., Crupi
Analysis of transport properties of nanoscale SOI devices: Full Quantum versus Semi Classical models
2007-01-01 Lucci, Luca; M., Bescond; R., Clerc; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca; S., Cristoloveanu
Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs
1992-01-01 Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.
Application of Bridged T-coils to the design of Multiplicative Gain MMIC Amplifiers
1991-01-01 Selmi, Luca; Estreich, D; Ricco, B.
Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET
2006-01-01 Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
Back-Scattering in Quasi Ballistic NanoMOSFETs: The Role of Non Thermal Carrier Distributions
2008-01-01 Clerc, R; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Ghibaudo, G.
Ballistic Effects in Advanced MOSFETs along the Roadmap
2005-01-01 Sangiorgi, E; Palestri, Pierpaolo; Eminente, S; Esseni, David; Fiegna, C; Selmi, Luca
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
An Improved Test Structure to Characterize Ultra- Low Hot Carrier Injection in Homogeneous Conditions | 1-gen-1996 | Selmi, Luca; Bez, R; Sangiorgi, Enrico | |
An in-depth investigation of physical mechanisms governing SANOS memories characteristics | 1-gen-2009 | M., Bocquet; Vianello, Elisa; G., Molas; L., Perniola; H., Grampeix; F., Martin; J. P., Colonna; A. M., Papon; P., Brianceau; M., Gély; B., De Salvo; G., Pananakakis; G., Ghibaudo; Selmi, Luca | |
Analysis of Dielectric Microbead Detection by Impedance Spectroscopy with Nanoribbons | 1-gen-2016 | Scarbolo, Paolo; Accastelli, Enrico; Ernst, Thomas; Guiducci, Carlotta; Selmi, Luca | |
Analysis of TFET based 6T SRAM cells implemented with state of the art silicon nanowires | 1-gen-2014 | S., Strangio; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca; F., Crupi | |
Analysis of transport properties of nanoscale SOI devices: Full Quantum versus Semi Classical models | 1-gen-2007 | Lucci, Luca; M., Bescond; R., Clerc; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca; S., Cristoloveanu | |
Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs | 1-gen-1992 | Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B. | |
Application of Bridged T-coils to the design of Multiplicative Gain MMIC Amplifiers | 1-gen-1991 | Selmi, Luca; Estreich, D; Ricco, B. | |
Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET | 1-gen-2006 | Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca | |
Back-Scattering in Quasi Ballistic NanoMOSFETs: The Role of Non Thermal Carrier Distributions | 1-gen-2008 | Clerc, R; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Ghibaudo, G. | |
Ballistic Effects in Advanced MOSFETs along the Roadmap | 1-gen-2005 | Sangiorgi, E; Palestri, Pierpaolo; Eminente, S; Esseni, David; Fiegna, C; Selmi, Luca |
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 199
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 199
Data di pubblicazione
- 2020 - 2022 3
- 2010 - 2019 74
- 2000 - 2009 84
- 1990 - 1999 36
- 1987 - 1989 2
Editore
- IEEE 37
- Institute of Electrical and Elect... 3
- American Institute of Physics Inc. 1
- DIEGM - Università degli Studi di... 1
- Libreria Progetto 1
- Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
- PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 2
- AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 1
- ECS TRANSACTIONS 1
- MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
Keyword
- FinFETs 2
- Gallium arsenide 2
- III-V compounds 2
- Logic gates 2
- nanoribbon 2
- Scattering 2
- Silicon 2
- TCAD 2
- AC 1
- admittance 1
Lingua
- eng 131
- ita 1
Accesso al fulltext
- reserved 117
- no fulltext 71
- restricted 10
- open 1