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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Benchmarks of a III-V TFET technology platform against the 10-nm CMOS technology node considering 28T Full-Adders 1-gen-2016 Strangio, Sebastiano; Palestri, Pierpaolo; Lanuzza, M.; Esseni, David; Crupi, F.; Selmi, Luca
Bias and Temperature Dependence of Gate and Substrate Currents in n-MOSFETs at Low Drain Voltage 1-gen-1994 Esseni, David; Selmi, Luca; R., Bez; Sangiorgi, Enrico; B., Ricco
Carrier Quantization in SOI MOSFETs using an Effective Potential Based Monte-Carlo Tool 1-gen-2003 Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Abramo, Antonio; Clerc, R; Selmi, Luca
Cathode Hot Electrons and Anode Hot Holes in Tunneling MOS Capacitors 1-gen-2000 Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; M., Pavesi; F., Widdershoven
Characterization and Modeling of Hot-Carrier Luminescence in Silicon n+/n/n+ Devices 1-gen-1995 Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M.; Bude, J; Manfredi, M; Sangiorgi, Enrico; Pinto, M. R.
Characterization and Modeling of long term retention in SONOS Non Volatile Memories 1-gen-2007 Arreghini, A; Akil, N; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; VAN DUUREN, M. J.
Characterization and modelling of differential sensitivity of nanoribbon-based pH-sensors 1-gen-2015 Scarbolo, Paolo; Accastelli, E.; Pittino, Federico; Ernst, T.; Guiducci, C.; Selmi, Luca
Characterization of Transient Effects in the S-Parameters of GaAs MESFETs by means of Pulsed Measurements 1-gen-1994 Begin, M; Ghannouchi, F. M.; Beauregard, F; Selmi, Luca; Ricco, B; Borelli, V.
Comparative Analysis of Basic Transport Properties in the Inversion Layer of Bulk and SOI MOSFETs: a Monte-Carlo Study 1-gen-2004 Lucci, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Comparison of Advanced Transport Models for Nanoscale nMOSFETS 1-gen-2009 Palestri, Pierpaolo; Alexander, C; Asenov, A; Baccarani, G; Bournel, A; Braccioli, M; Cheng, B; Dollfus, P; Esposito, A; Esseni, David; Ghetti, A; Fiegna, C; Fiori, G; AUBRY FORTUNA, V; Iannaccone, G; Martinez, A; Majkusiak, B; Monfray, B; Reggiani, S; Riddet, C; SAINT MARTIN, J; Sangiorgi, E; Schenk, A; Selmi, Luca; Silvestri, L; Walczak, J.
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 199
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 199
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 113
  • ESSENI, David 90
  • DRIUSSI, Francesco 31
  • SANGIORGI, Enrico 31
  • CARUSO, Enrico 14
  • ABRAMO, Antonio 13
  • LIZZIT, Daniel 12
  • LUCCI, Luca 11
  • OSGNACH, Patrik 8
  • REVELANT, Alberto 7
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2022 3
  • 2010 - 2019 74
  • 2000 - 2009 84
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 37
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • American Institute of Physics Inc. 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Libreria Progetto 1
  • Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 2
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 1
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
Keyword
  • FinFETs 2
  • Gallium arsenide 2
  • III-V compounds 2
  • Logic gates 2
  • nanoribbon 2
  • Scattering 2
  • Silicon 2
  • TCAD 2
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 131
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • reserved 117
  • no fulltext 71
  • restricted 10
  • open 1