Bias and Temperature Dependence of Gate and Substrate Currents in n-MOSFETs at Low Drain Voltage
ESSENI, David;SELMI, Luca;SANGIORGI, Enrico;
1994-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.