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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A quasi-analytical model for nanowire FETs with arbitrary polygonal cross section 1-gen-2010 DE MICHIELIS, Luca; Selmi, Luca; Ionescu, A. M.
A scaled replacement metal gate InGaAs-on-Insulator n-FinFET on Si with record performance 1-gen-2017 Hahn, H.; Deshpande, V.; Caruso, E.; Sant, S.; O'Connor, E.; Baumgartner, Y.; Sousa, M.; Caimi, D.; Olziersky, A.; Palestri, P.; Selmi, L.; Schenk, A.; Czornomaz, L.
A semi-analytical description of the Hole band structure in inversion layers for the physically based modelling of p-MOS transistors 1-gen-2007 M., DE MICHIELIS; Esseni, David; Y. L., Tsang; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; A. O., Neill; S., Chattopadhyay
A simulation study of strain induced performance enhancements in InAs nanowire Tunnel-FETs 1-gen-2011 Conzatti, Francesco; Pala, M. G.; Esseni, David; Bano, E.; Selmi, Luca
A simulation study of the Punch-through Assisted Hot Holes Injection mechanism for non-volatile-memory cells 1-gen-2010 Iellina, Matteo; Palestri, Pierpaolo; Akil, N.; VAN DUUREN, M.; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca
A Study of Injection Conditions in the Substrate Hot Electron Induced Degradation of n-MOSFETs 1-gen-1993 Selmi, Luca; Fiegna, C; Bez, R; Sangiorgi, Enrico; Ricco, B.
A TCAD-Based Methodology to Model the Site-Binding Charge at ISFET/Electrolyte Interfaces 1-gen-2015 Bandiziol, Andrea; Palestri, Pierpaolo; Pittino, Federico; Esseni, David; Selmi, Luca
A technique to model the AC response of diffuse layers at electrode/electrolyte interfaces and to efficiently simulate impedimetric biosensor arrays for many analyte configurations 1-gen-2014 Pittino, Federico; Selmi, Luca
A Test Chip and an Accurate Measurement System to Characterize Hot Hole Injection in the Gate Oxide of p-MOSFET’s 1-gen-1994 Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.
A Test Pattern to Investigate the Effect of Capping Layers on the Hot Carrier Induced Photon Spectra of MOSFET’s 1-gen-1994 Lanzoni, M; Selmi, Luca; Bez, R; Manfredi, M.
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Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 216
  • ESSENI, David 174
  • DRIUSSI, Francesco 69
  • SANGIORGI, Enrico 54
  • ABRAMO, Antonio 20
  • CARUSO, Enrico 18
  • LIZZIT, Daniel 18
  • LUCCI, Luca 15
  • PITTINO, Federico 15
  • OSGNACH, Patrik 14
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 9
  • 2010 - 2019 156
  • 2000 - 2009 159
  • 1990 - 1999 63
  • 1987 - 1989 8
Editore
  • IEEE 38
  • IEEE / Institute of Electrical an... 7
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • Wiley 3
  • Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE A... 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • American Institute of Physics Inc. 1
  • Cambridge University Press 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Science BV 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 66
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 31
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 11
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 9
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND... 3
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 2
  • IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY 2
Keyword
  • TCAD 7
  • Monte Carlo 6
  • Electrical and Electronic Enginee... 5
  • Electronic 5
  • Optical and Magnetic Materials 5
  • Simulation 5
  • Tunnel-FET 5
  • Condensed Matter Physics 4
  • Modeling 4
  • Charge trapping 3
Lingua
  • eng 286
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