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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Monte Carlo Technique to Investigate Signal Delays of Advanced Si BJT's up to High Currents 1-gen-2000 Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; G. A. M., Hurkx; J. W., Slotboom
A Multi-Subband Monte Carlo study of electron transport in strained SiGe n-type FinFETs 1-gen-2012 Lizzit, Daniel; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Conzatti, Francesco; Selmi, Luca
A New Multi Subband Monte Carlo Simulator for Nano p-MOSFETs 1-gen-2008 DE MICHIELIS, Marco; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
A novel method to determine the Source and Drain resistances of individual MOSFETs 1-gen-1988 Ricco, B; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico
A scaled replacement metal gate InGaAs-on-Insulator n-FinFET on Si with record performance 1-gen-2017 Hahn, H.; Deshpande, V.; Caruso, E.; Sant, S.; O'Connor, E.; Baumgartner, Y.; Sousa, M.; Caimi, D.; Olziersky, A.; Palestri, P.; Selmi, L.; Schenk, A.; Czornomaz, L.
A simulation study of strain induced performance enhancements in InAs nanowire Tunnel-FETs 1-gen-2011 Conzatti, Francesco; Pala, M. G.; Esseni, David; Bano, E.; Selmi, Luca
A Study of Injection Conditions in the Substrate Hot Electron Induced Degradation of n-MOSFETs 1-gen-1993 Selmi, Luca; Fiegna, C; Bez, R; Sangiorgi, Enrico; Ricco, B.
A technique to model the AC response of diffuse layers at electrode/electrolyte interfaces and to efficiently simulate impedimetric biosensor arrays for many analyte configurations 1-gen-2014 Pittino, Federico; Selmi, Luca
A Test Chip and an Accurate Measurement System to Characterize Hot Hole Injection in the Gate Oxide of p-MOSFET’s 1-gen-1994 Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.
A Test Pattern to Investigate the Effect of Capping Layers on the Hot Carrier Induced Photon Spectra of MOSFET’s 1-gen-1994 Lanzoni, M; Selmi, Luca; Bez, R; Manfredi, M.
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 206
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 199
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 7
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 117
  • ESSENI, David 90
  • DRIUSSI, Francesco 34
  • SANGIORGI, Enrico 31
  • CARUSO, Enrico 14
  • ABRAMO, Antonio 13
  • LIZZIT, Daniel 12
  • LUCCI, Luca 11
  • OSGNACH, Patrik 8
  • REVELANT, Alberto 7
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2022 3
  • 2010 - 2019 80
  • 2000 - 2009 85
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 37
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • American Institute of Physics Inc. 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Libreria Progetto 1
  • Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 2
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 1
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
Keyword
  • FinFETs 2
  • Gallium arsenide 2
  • III-V compounds 2
  • Logic gates 2
  • nanoribbon 2
  • Scattering 2
  • Silicon 2
  • TCAD 2
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 138
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • reserved 123
  • no fulltext 71
  • restricted 10
  • open 2