Profiling border-traps by TCAD analysis of multifrequency CV-curves in Al2O3/InGaAs stacks

	Anno
	
				2018
			
	Codice ISBN
	
				978-1-5386-4811-7
			
	Appare nelle tipologie:
	
				4.1 Contributo in Atti di convegno

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11390/1134766