Impact of interface traps on the IV curves of InAs Tunnel-FETs and MOSFETs: A full quantum study

M. G. Pala
;
D. Esseni;F. Conzatti
2012-01-01

2012
978-1-4673-4871-3
978-1-4673-4872-0
978-1-4673-4870-6
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