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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Bias and Temperature Dependence of Gate and Substrate Currents in n-MOSFETs at Low Drain Voltage 1-gen-1994 Esseni, David; Selmi, Luca; R., Bez; Sangiorgi, Enrico; B., Ricco
BipFLASH: a Novel Non-Volatile Memory Cell Concept for High Speed - Low Power Applications 1-gen-2001 Esseni, David; Selmi, Luca
Bipolar Flash Memory (BipFlash) - A new Architecture for a Non-Volatile Memory with a High Programming Efficiency 1-gen-2002 Esseni, David; Selmi, Luca; R., Bez; A., Modelli
Calibrated multi-subband Monte Carlo modeling of tunnel-FETs in silicon and III–V channel materials 1-gen-2013 Revelant, Alberto; Palestri, Pierpaolo; Osgnach, Patrik; Selmi, Luca
Calibration of High-Frequency Impedance Spectroscopy Measurements with Nanocapacitor Arrays 1-gen-2019 Cossettini, Andrea; Selmi, Luca
Calibration, Compensation, Parameter Estimation, and Uncertainty Quantification for Nanoelectrode Array Biosensors 1-gen-2018 Cossettini, Andrea; Scarbolo, Paolo; Morales Escalante, Jose A.; Benjamin, Stadlbauer; Naseer, Muhammad; Leila, Taghizadeh; Clemens, Heitzinger; Selmi, Luca
Can photon emission/absorption processes explain the substrate current of tunneling MOS capacitors ? 1-gen-2002 DALLA SERRA, Alberto; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Carrier Quantization in SOI MOSFETs using an Effective Potential Based Monte-Carlo Tool 1-gen-2003 Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Abramo, Antonio; Clerc, R; Selmi, Luca
Cathode Hot Electrons and Anode Hot Holes in Tunneling MOS Capacitors 1-gen-2000 Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; M., Pavesi; F., Widdershoven
Challenges and opportunities in the design of Tunnel FETs: materials, device architectures, and defects 1-gen-2014 Esseni, David; Pala, M. G.; Revelant, Alberto; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Li, M.; Snider, G.; Jena, D.; Xing, H. G.
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  • 6 Brevetti 2
  • 6 Brevetti::6.1 Brevetto 2
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 216
  • ESSENI, David 174
  • DRIUSSI, Francesco 69
  • SANGIORGI, Enrico 54
  • ABRAMO, Antonio 20
  • CARUSO, Enrico 18
  • LIZZIT, Daniel 18
  • LUCCI, Luca 15
  • PITTINO, Federico 15
  • OSGNACH, Patrik 14
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 9
  • 2010 - 2019 156
  • 2000 - 2009 159
  • 1990 - 1999 63
  • 1987 - 1989 8
Editore
  • IEEE 38
  • IEEE / Institute of Electrical an... 7
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • Wiley 3
  • Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE A... 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • American Institute of Physics Inc. 1
  • Cambridge University Press 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Science BV 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 66
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 31
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 11
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 9
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND... 3
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 2
  • IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY 2
Keyword
  • TCAD 7
  • Monte Carlo 6
  • Electrical and Electronic Enginee... 5
  • Electronic 5
  • Optical and Magnetic Materials 5
  • Simulation 5
  • Tunnel-FET 5
  • Condensed Matter Physics 4
  • Modeling 4
  • Charge trapping 3
Lingua
  • eng 286
  • ita 3
Accesso al fulltext
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